您好、欢迎来到现金彩票网!
当前位置:21点 > 自动并行化 >

CIOE专访普赛斯:光器件自动化生产、测试设备的佼佼者

发布时间:2019-06-27 05:43 来源:未知 编辑:admin

  展示重点:25G/100G测试系统,100G误码议,创新的片式综合测试系统,EML器件生产测试等

  蒋经理表示,针对目前市场上对于25G/100G光器件需求旺盛,普赛斯率先推出25G/100G的LD器件老化测试系统,以适应市场需求。该系统适用于给25G或100G的LD提供老化驱动电源,以及检测老化过程中的性能。可兼容多个单颗与多个并行LD器件的老化,支持64颗激光器同时老化,并且系统老化驱动与检测控制,配合上位机查询系统的工作状态,保存工作数据,实时上报监测参数,实现实时监控器件老化过程中的性能状态。

  此外,普赛斯还针对100G光收发模块研发和生产,特别是并行100G产品推出高速误码仪。

  新产品持续开发的同时,普赛斯还在以往的产品上进行二次创新,本次创新地推出插卡式组合测试方案,可以组合误码仪、功率计、数字光衰减器、光开关、LIV测试系统等;还可以自由组合成测试方案:2.5G的BOSA器件综合性能测试系统、10G的BOSA器件综合性能测试系统、SFP光模块四工位并行测试系统、BOB光猫测试系统等。为客户提升空间利用率、整洁、美观,大受客户欢迎。

  同时,针对目前需求量最大的10G模块领域,普赛斯此次重点展示10GEML器件耦合设备、10GEML测试系统、10GEML老化系统。

  据光纤在线了解,经过六年的发展,普赛斯的产品针对BAR条器件、TO器件、光收发模块推出生产线监测,自动化生产设备,综合测试设备,老化测试系统等等,具体包括:EML器件耦合测试老化完整解决方案,BOSA多路性能测试解决方案,BOSA/BOB器件测试解决方案,SFP模块四工位并行测试解决方案,TO器件产线自动化解决方案,OSA产线;滤波片自动贴片机;TO-CAN自动盘测机;1.25G~10G的OLT突破自动化测试系统;10G/25G/40G/100G误码仪;各种器件的老化监控测试方案。显然,普赛斯已经迅速成长为光有源器件领域生产与测试仪表的佼佼者。

  此外,普赛斯还开发了测量微弱电流以及半导体材料特性检测的系列仪器仪表设备,如皮安表、源表,以及半导体制冷器的相关测试系统等。未来,普赛斯还将涉足无源器件测试领域,如MPO自动化测试系统等等。

http://mervynsons.com/zidongbingxinghua/143.html
锟斤拷锟斤拷锟斤拷QQ微锟斤拷锟斤拷锟斤拷锟斤拷锟斤拷锟斤拷微锟斤拷
关于我们|联系我们|版权声明|网站地图|
Copyright © 2002-2019 现金彩票 版权所有